貴金屬成份分析儀
產 地 : 臺灣
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SCL-MARS 8800 貴金屬成份分析儀 是以瑩光光譜分折,所使用 X-Ray 的 X光管是金屬管使用耐久,X-Ray探測頭 (Detector) 為美國進口,此探測頭是裝置在探測外太空的火箭上用來探測火星的探測儀上,感應非常敏銳 。因此用來分析貴金屬成份可到十萬分之一的感應精度,如黃金 Au99.999%,也可對鍍有金、銀、鎳、銠等電鍍成品測鍍模厚度分析,最厚可測到 5 微米。 |
內置高清鏡頭 |
特 性 : * 高分辨率圖形即時顯示,由彩色曲峰線圖加以區分易判斷。 * 高品質冰水制泠系統,更適合高溫區域使用,測試更準確。 * 裝置定位攝相頭可作測試點定位檢測,被測試位不受它點干擾。 |
美國太空總署採用探測鏡頭 |
貴金屬成份分析儀驗證文件: